Perthometer M2便携式粗糙度测量仪，粗糙度仪与Perthometer M1对比，此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线*根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。更多的，MarSurf M2 提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪，粗糙度仪
概述
此仪器的操作是基于久经验证的强大功能，使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2让您得到zui到的测量功能和高效的测量灵活性。
与Perthometer M1对比，此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线*根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。
更多的，MarSurf M2 提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测，垂直显示比例的调整，用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置。
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪特点
·测量范围高达150µm
·测量单位µm/µin 可选
·评定标准：DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可选
·依照DINENISO4288/ASMEB461标准的测量长度选择：1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm；依照ENISO12085标准：1mm；2mm；4mm；8mm；12mm；16mm
·截止波长可从 1 至5自由选择
·*依照标准的测量波长及测量长度自动选择
·依照DINENISO11562标准的相位修正轮廓滤波器
·可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm (0,01 in/0,032 in/0,100 in)
·可选择短截止波长
·依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数：Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc；
·依照JIS标准的评定参数：Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif
·标准的评定参数：R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量)
·可显示公差及输出测量报告中
·显示比例可自动或手动选择
·可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告
·测量报告可输出测量日期及时间
·内置存储卡可存储200组测量数据
·动态传感器校准
·锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪主要技术指标
相对误差: ≤±5%
测量原理：指针电感触方式
测量范围：100 um
测量速度：0.5 mm/s
轮廓分辨率：12 nm
滤波：高斯(自动确定)
取样长度：0.25, 0.8, 2.5 mm
扫描长度按DIN/ISO：1.75, 5.6, 17.5 mm
取样长度数目: 1 到 5 , 可选择
参数：DIN/ISO：Ra, Rz, Rmax, Rq,Rp,Rt,R3z,Ry,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Rr2,Pc,Mk ,Sm,S,tp.
JIS：Ra, Rz
垂直方向标定：自动
水平方向标定：根据取样长度
记录：R-轮廓，数据输出
打印机：自动打印 / 内置式打印
纸宽：57.5 mm
计量单位：um / uin，可选择
显示：LCD 显示
语言：中文操作界面，10种欧洲语言和其它2种亚洲语言
带有RS232串行口，可直接与pc相连
公差和测量数据显示跟踪，输出测量日期和时间
集成存储器能够zui多存储200个测量结果
可在PCMCIA内存卡上存储无数个测量结果，轮廓和测量程序
电源：允许输入电压从90V到 264V，根据电源箱
可充电池：NiCd 电池，可测量1000次
操作温度：+ 5 deg to + 40 deg
重量：约 900 g
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪应用
轴类，外壳，大体积的机械机架
汽车业应用上使用，实现固定架构中任何部件的快速线上实时测量
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪测量工作站组件
·M 系列由坚固的测量工具箱保护，里面包含：
·M2评定单元
·PFM 驱动器
·NHT 6-100 传感器
·通用 90-264 V电源适配器
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪，粗糙度仪
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