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  • Ф30平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф30平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф45平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф45平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф60平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф60平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф80平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф80平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф100平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф100平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф150平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф150平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф200平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф200平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф250平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф250平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф300平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф300平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф400平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф400平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф500平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф500平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • Ф600平面平晶,一级平晶,圆形平晶

    Ф600平面平晶,一级平晶,圆形平晶;平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
  • 平行平晶0-25,一级平晶

    平行平晶0-25,一级平晶;平行平晶:用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共有0-25/25-50/50-75/75-100共4组,每组4...
  • 平行平晶25-50,一级平晶

    平行平晶25-50,一级平晶;平行平晶:用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共有0-25/25-50/50-75/75-100共4组,每组...
  • 平行平晶50-75,一级平晶

    平行平晶50-75,一级平晶;平行平晶:用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共有0-25/25-50/50-75/75-100共4组,每组...
  • 平行平晶75-100,一级平晶

    平行平晶75-100,一级平晶;平行平晶:用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共有0-25/25-50/50-75/75-100共4组,每...
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