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数字立式光学计JDG-S2，测长仪
数字立式光学计JDG-S2，测长仪，数字立式光学计JDG-S2被测件Z大长度180mm，是设计制造的立式光学计，直接测量可以达到10毫米，并有公英制的转换显示，更加方便了10毫米以下的工件测量。主要用...
JD25-C数据处理万能测长仪
JD25-C数据处理万能测长仪外尺寸：测量0—100；相对测量0—670；内尺寸：使用小测钩（Z大伸入深度12，Z大臂厚50）时，10～400；使用大测钩（Z大伸入深度50，Z大臂厚85）时，30～3...
JD25-D数字式万能测长仪
JD25-D数字式万能测长仪外尺寸：测量0—100；相对测量0—670；内尺寸：使用小测钩（Z大伸入深度12，Z大臂厚50）时，10～400；使用大测钩（Z大伸入深度50，Z大臂厚85）时，30～37...
JD9A/JD21/JD10A型投影二米、三米测长机
JD9A/JD21/JD10A型投影二米、三米测长机测量范围（mm）外尺寸0—1000、0—2000、0—3000 内尺寸（用大小测钩时深度从5—50） 13.5-900、13.5-1900、13....
TESA-HITE PLUS M 400/700测高仪
TESA-HITE PLUS M 400/700测高仪真正的瑞士制造，SCS校准证书已包含在主机价格中，电子装置*保护，可防护液体或灰尘颗粒侵入，内置空气轴承，的TESA光电测量系统；易于使用，直观的...
TESA MICRO-HITE 二维测高仪（手动型）
TESA MICRO-HITE 二维测高仪（手动型）测高仪真正的瑞士制造，SCS校准证书已包含在主机价格中，电子装置*保护，可防护液体或灰尘颗粒侵入，内置空气轴承，的TESA光电测量系统；易于使用，直...
TESA MICRO-HITE plus M 二维测高仪（自动型）
TESA MICRO-HITE plus M 二维测高仪（自动型）真正的瑞士制造，SCS校准证书已包含在主机价格中，电子装置*保护，可防护液体或灰尘颗粒侵入，内置空气轴承，的TESA光电测量系统；易于...
双柱带表高度尺，测长仪
高度尺也被称为高度游标卡尺。顾名思义，它的主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和位置公差尺寸，有时也用于划线。根据读数形式的不同，高度游标卡尺可分为普通游标式和电子数显式两大类。双柱带表高...
双柱数显高度尺，测长仪
高度尺也被称为高度游标卡尺。顾名思义，它的主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和位置公差尺寸，有时也用于划线。根据读数形式的不同，高度游标卡尺可分为普通游标式和电子数显式两大类。双柱带表高...
高度尺，测长仪
高度尺也被称为高度游标卡尺。顾名思义，它的主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和位置公差尺寸，有时也用于划线。根据读数形式的不同，高度游标卡尺可分为普通游标式和电子数显式两大类。双柱带表高...
数显高度尺，测长仪
高度尺也被称为高度游标卡尺。顾名思义，它的主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和位置公差尺寸，有时也用于划线。根据读数形式的不同，高度游标卡尺可分为普通游标式和电子数显式两大类。双柱带表高...
日本三丰双柱带表高度尺，测长仪
192系列双柱带表高度尺，高度尺也被称为高度游标卡尺。顾名思义，它的主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和位置公差尺寸，有时也用于划线。根据读数形式的不同，高度游标卡尺可分为普通游标式和电...
日本三丰双柱数显高度尺，测长仪
192系列双柱数显高度尺，高度尺也被称为高度游标卡尺。顾名思义，它的主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和位置公差尺寸，有时也用于划线。根据读数形式的不同，高度游标卡尺可分为普通游标式和电...
数字式智能显微硬度计HXS-1000
数字式智能显微硬度计HXS-1000测定金属、合金表面层及金属内部组织结构的显微硬度；测定用其它方法所不能测的小件、薄件、脆硬件以及相夹杂、镀层等的硬度。显微硬度图像处理则可在细微距离内进行精密定位的...
液晶智能显微硬度计HXS-1000AY
液晶智能显微硬度计HXS-1000AY测定金属、合金表面层及金属内部组织结构的显微硬度；测定用其它方法所不能测的小件、薄件、脆硬件以及相夹杂、镀层等的硬度。显微硬度图像处理则可在细微距离内进行精密定位...
触摸式液晶智能显微硬度计HXS-1000AC
触摸式液晶智能显微硬度计HXS-1000AC测定金属、合金表面层及金属内部组织结构的显微硬度；测定用其它方法所不能测的小件、薄件、脆硬件以及相夹杂、镀层等的硬度。显微硬度图像处理则可在细微距离内进行精...

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